FIM: Frustrated Total Internal Reflection Based Imaging for Biomedical Applications

Risse B, Jiang X, Klämbt C

Forschungsartikel (Zeitschrift) | Peer reviewed

Details zur Publikation

Jahrgang / Bandnr. / Volume95
Ausgabe / Heftnr. / IssueImage Understanding
Seitenbereich11-12
StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2013
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch

Autor*innen der Universität Münster

Jiang, Xiaoyi
Professur für Praktische Informatik (Prof. Jiang)
Klämbt, Christian
Professur für Neuro- und Verhaltensbiologie (Prof. Klämbt)
Risse, Benjamin
Professur für Praktische Informatik (Prof. Jiang)